'

Мультифункциональный сканирующий зондовый микроскоп NТ-206

Понравилась презентация – покажи это...





Слайд 0

Области применения: Физика твердого тела Микроэлектроника Оптика Тонкопленочные технологии Нанотехнологии Полупроводниковые технологии Микро- и нанотрибология Анализ поверхностей Полимеры и композиты Биологические клетки, мембраны Мультифункциональный сканирующий зондовый микроскоп NТ-206


Слайд 1

Области применения: Кислотно-основное титрование Окислительно-восстановительное титрование Титрование по методу Карла Фишера Прямое измерение рН, концентрации ионов и УЭП рН-статирование Вольтамперометрическое титрование Автоматический титратор Т50 Mettler-Toledo


Слайд 2

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7500F Данный прибор уникален тем, что даже при низком ускоряющем напряжении он обеспечивает сверхвысокое разрешение (1,4нм при 1кВ). Это делает JSM-7500F прекрасным инструментом для анализа трековых мембран, текстуры наноструктурных объектов, особенно тех, которые чувствительны к воздействию электронных пучков.


Слайд 3

Технические характеристики спектральная область измерений:200–1200 нм; временное разрешение: 7 нс; температурный диапазон измерений:12,5–700 К; временной диапазон измерений: 10–8– 104 с; максимальная энергия возбуждающих электронов: 400 кэВ, длительность импульса тока электронов: 2–10 нс; диапазон возможных плотностей тока пучка электронов: 0,001–1000 А/см2. Установка импульсной спектрометрии


×

HTML:





Ссылка: